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Gate leakage variability in nano-CMOS transistors

Markov:Gate leakage variability in nano
Autor: Stanislav Markov
Verfügbarkeit: Auf Lager.
Artikelnummer: 1030688
ISBN / EAN: 9783639220995

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Zusatzinformation

  • Autor:
  • Verlag: VDM Verlag Dr. Müller
  • ISBN / EAN: 9783639220995
  • Bindung: Taschenbuch

Produktbeschreibung

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