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Device Performance and Reliability in SOI MOSFET

Duan:Device Performance and Reliability
Autor: Franklin Duan
Verfügbarkeit: Auf Lager.
Artikelnummer: 1647593
ISBN / EAN: 9783659186172

Verfügbarkeit: sofort lieferbar

59,00 €
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Zusatzinformation

  • Autor:
  • Verlag: LAP Lambert Academic Publishing
  • ISBN / EAN: 9783659186172
  • Bindung: Taschenbuch

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