MENÜ MENÜ

  • Sie verwenden einen veralteten Webbrowser, weshalb es zu Problemen mit der Darstellung kommen kann. Bei Problemen mit der Bestellabgabe können Sie gerne auch telefonisch bestellen unter: 01805 / 30 99 99 (0,14 €/Min.)

Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing

Kundu:Strategies to Reduce Power during
Autor: Subhadip Kundu / Santanu Chattopadhyay
Verfügbarkeit: Auf Lager.
Artikelnummer: 989244
ISBN / EAN: 9783659255205

Verfügbarkeit: sofort lieferbar

49,00 €
Inkl. MwSt. , zzgl. Versandkosten

Ihre Kundenmeinung hinzufügen


    • Produktbeschreibung
    • Kundenmeinungen

      Vielen Dank für das Interesse an unsere Kundenmeinungen.
      Wir können die Authentizität der Bewertungen nicht prüfen und sicherstellen.

    Zusatzinformation

    Produktbeschreibung

    Testing is now considered as one of the most important issues in the development process of integrated circuits. With the advent of deep sub-micron (DSM) technology, the tight constraints on power dissipation have created new challenges for testing low power VLSI circuits. This necessitates redesigning the traditional test techniques that do not account for power dissipation during test application. Test power is always expected to be higher than that in the normal mode of operation of a circuit. High test power may lead to permanent or temporal damage of the chip. The objective of this thesis is to develop strategies to reduce test power consumption, considering both dynamic and leakage power, without compromising the fault coverage and thus increasing the manufacturing yield. Four different strategies (three for external testing and one for internal testing) have been developed in such a way that they require either zero or very small overhead in terms of area. The techniques also have no impact on fault coverage and functional critical path

    0 Kundenmeinungen

    Vielen Dank für das Interesse an unsere Kundenmeinungen.
    Wir können die Authentizität der Bewertungen nicht prüfen und sicherstellen.

    Bitte schreiben Sie uns Ihre Meinung zu: Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing

    Weitere beliebte Produkte

    Buch Bestseller
    1. Meine Fibel Platz 1: Meine Fibel
    2. Finde deinen Fixstern Platz 2: Finde deinen Fixstern
    3. Steuerhinterziehung - was nun? Platz 3: Steuerhinterziehung - was nun?
    4. Lass mir die Welt, verschule sie nicht! Platz 4: Lass mir die Welt, verschule sie nicht!
    5. Die 100 besten Vogelbeobachtungsplätze in Deutschland Platz 5: Die 100 besten Vogelbeobachtungsplätze in Deutschland
    6. Göttlicher Wille und menschliche Macht Platz 6: Göttlicher Wille und menschliche Macht
    7. Bedeutsame Belanglosigkeiten Platz 7: Bedeutsame Belanglosigkeiten
    8. Das große Buch der Internationalen Friedensfahrt Platz 8: Das große Buch der Internationalen Friedensfahrt
    9. Sport frei! Platz 9: Sport frei!
    10. Die DDR - Erlebnisliste Platz 10: Die DDR - Erlebnisliste
    1421141365_1335960968_DDR-TV-Archiv
    DVD Bestseller
    1. Analsex for Lovers (FSK 18) Platz 1: Analsex for Lovers (FSK 18)
    2. Best of Bundesliga 1963 - 2013 Platz 2: Best of Bundesliga 1963 - 2013
    3. Herbert Köfer - Jubiläumsedition Platz 3: Herbert Köfer - Jubiläumsedition
    4. Wenn schon - denn schon (DDR TV-Archiv) Platz 4: Wenn schon - denn schon (DDR TV-Archiv)
    5. Tod und Auferstehung des Wilhelm Hausmann (DDR TV-Archiv) Platz 5: Tod und Auferstehung des Wilhelm Hausmann (DDR TV-Archiv)